一种基于ATE的反熔丝FPGA的测试方法

• 作者: 李岱林 陈诚
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 反熔丝 现场可编程逻辑门阵列 自动化测试设备 测试方法
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 28-32
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难点,提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)的反熔丝FPGA的测试方法.测试结果表明,该测试方法可以有效地解决反熔丝FPGA的测试难题.