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非加速状态下的电子设备可靠性试验分析
非加速状态下的电子设备可靠性试验分析
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摘要：
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基于加速退化的电子设备可靠性分析
退化
失效
加速
可靠性分析
采用虚拟样本加速退化试验的复杂电子设备可靠性评估
复杂电子设备
加速退化试验
可靠性评估
退化模型
虚拟样本
电子设备的可靠性统计试验方法研究
电子设备
可靠性统计
试验方法
高可靠电子设备可靠性仿真试验技术应用研究
可靠性仿真试验
可靠性设计
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电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
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46655
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