基于MCU的可测性设计与实现

• 作者: 张键 鲍宜鹏
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: MCU芯片 可测性设计 测试资源复用 测试成本 测试方法
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 72-76
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.07
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0111

摘要

随着客户需求的复杂化及先进EDA工具的使用,MCU芯片向高复杂性、高集成度、高性能发展,电路规模越来越大,这使得MCU的可测性设计变得越来越困难.介绍了传统测试结构及其局限性,以及优化后的测试结构及其测试策略,实现了CKS32FOXX芯片的测试向量产生及整体测试.