基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
通过对电子设备中各组成单元进行故障模式及影响分析、可靠性试验的方法来发现产品缺陷,从而确定纠正措施以提高设备的可靠性.简要介绍故障模式及影响分析实施步骤及实施要点与可靠性试验时机、试验方法等.列举某国产电子设备的故障模式及影响分析和试验实施结果及相应的改进措施.
推荐文章
电子设备可靠性评估方法应用研究
电子设备
可靠性评估
经典法
贝叶斯法
电子设备的可靠性统计试验方法研究
电子设备
可靠性统计
试验方法
现代电子设备的可靠性设计技术
可靠性设计
元器件
电子线路
印制电路板
电子设备可靠性增长试验方法及应用研究
电子设备
可靠性增长
试验研究
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 提高某国产化电子设备可靠性的方法
来源期刊 机电产品开发与创新 学科 工学
关键词 电子设备 故障模式及影响分析 可靠性增长试验
年,卷(期) 2021,(1) 所属期刊栏目 产品与市场
研究方向 页码范围 44-45,48
页数 3页 分类号 TP21|TN4
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-6673.2021.01.014
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (22)
共引文献  (23)
参考文献  (4)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1995(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1998(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1999(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2003(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2005(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2012(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2013(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2014(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2015(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2016(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2017(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2020(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2021(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电子设备
故障模式及影响分析
可靠性增长试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
机电产品开发与创新
双月刊
1002-6673
11-3913/TM
大16开
北京市首体南路2号6层632室
82-401
1988
chi
出版文献量(篇)
6855
总下载数(次)
12
总被引数(次)
21387
论文1v1指导