基于curvelet变换的光学器件表面特征识别

• 作者: 李林福 陈建军 吴锦行
• 来源期刊: 激光杂志
• 关键词: 特征提取 光学器件 曲线波变换 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2021,（3）
• 所属期刊栏目: 模式识别
• 页码范围: 96-99
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.73
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.jgzz.2021.03.096

摘要

为了精确识别复杂精密光学器件在制造过程中由于工艺要求不可避免产生的缺陷特征,基于曲线波(Curvelet)变换优良的曲线特征识别和强大的稀疏表示能力,提出了一种基于曲线波变换的缺陷特征识别方法,该方法采用变换域特征分离,在空间域获得特征识别后的器件表面图像.仿真结果和实验结果证明,提出的方法比传统小波算法精度和准确度更好,运算速度也可以接受,因此可用于光学器件表面特征缺陷的在线检测.