模型位姿变化对荧光油膜测厚精度的影响

• 作者: 陈博雯 黄健 张征宇
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量 紫外诱导荧光 荧光强度 油膜测厚 模型位姿变化 误差分析
• 年，卷（期）: 2021,（23）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量|Instrumentation, Measurement and Metrology
• 页码范围: 138-144
• 页数: 7页
• 分类号: O432.1+2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS202141.2312004

摘要

基于紫外诱导荧光的油膜厚度测量方法已被广泛应用于风洞油流实验,但在动态风洞实验中,承载荧光油膜的模型的位姿变化将会影响油膜厚度测量的精度.在紫外激发光源一次照明与油膜直接成像场景中,对模型位姿变化带来的成像荧光强度误差进行了理论及实验分析.研究了当被测模型发生平移和倾斜时,模型表面的辐照特性、接收荧光强度及成像接收荧光强度的变化,并利用成像荧光强度误差来表征油膜厚度测量精度.分析结果表明,当模型平移时,油膜厚度测量误差与平移距离有关,平移距离越大,误差越大.当模型小角度(-4°～4°)倾斜时,油膜厚度测量的相对误差小于1％.