一种12.5Gbps JESD204B接口芯片量产测试技术

• 作者: 刘然 张若寒 马明朗 李鑫 郑诗琼 王勇
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高速串行接口测试 ATE测试 JESD204B协议 测试系统
• 年，卷（期）: 2021,（11）
• 所属期刊栏目: 技术应用与研究
• 页码范围: 54-56,142
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2021.11.024

摘要

支持高速JESD204B接口的产品已大量面世,为满足JESD204B接口芯片量产测试的需求,本文就JESD204B接口芯片开展测试技术研究,提出了一种12.5Gbps JESD204B接口芯片的量产测试方法.该方法基于自动测试设备(ATE,Automated Test Equipment)自主设计了高速串行接口芯片测试系统,实现对JESD204B接口芯片的量产测试.通过高速信号完整性设计,实现16Gbps高速信号100％的传输准确率;基于ATE实现JESD204B协议发送端、接收端设计,实现12.5Gbps JESD204B接口芯片量产测试技术.最后对两款具备12.5Gbps JESD204B接口的芯片进行功能验证和参数测试,测试结果符合测试指标要求,测试方法可行有效.