基于破坏性物理分析的假冒翻新器件识别方法

• 作者: 杨智帆 阳川 李凌博 胡波 兰楠
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 假冒翻新 破坏性物理分析
• 年，卷（期）: 2022,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 47-51
• 页数: 4页
• 分类号: TN601
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2022.04.009

摘要

假冒翻新电子元器件大量存在于当前电子产品领域。基于破坏性物理分析技术，探讨了如何识别假冒翻新器件；阐述了利用外部目检、 X射线检查、声学扫描显微镜检查和内部目检等技术手段识别假冒翻新器件的具体方法，以期为减少假冒翻新器件、提高产品的可靠性提供一定的指导。