掺杂CaO对SnO2压敏电阻稳定性的影响

• 作者: 孙冠岳 赵洪峰 周远翔 谢清云 蒙晓记
• 来源期刊: 陶瓷学报
• 学科: 工学
• 关键词: 陶瓷 SnO2压敏电阻 泄漏电流 电压梯度 微观结构
• 年，卷（期）: 2022,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与探索|Research and Exploration
• 页码范围: 62-67
• 页数: 6页
• 分类号: TQ174.75
• 语种: 中文
• DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.2022.01.006

摘要

研究了掺杂不同浓度CaO对SnO2压敏电阻稳定性的影响,样品在0.9 E1mA/135℃/160 h的连续电压应力下进行交流加速(50 Hz)老化试验,采用扫描电镜(SEM)、X射线衍射、电流-电压(E-J)、电容-电压(C-V)等测试手段对样品进行测量并观察老化前后电学性能和微观结构的变化.结果表明,当CaO掺杂浓度为0.04 mol％时,老化后样品的电压梯度最高为744.65 V·mm?1,泄漏电流最低为6.88μA·cm?2,老化系数为0.058,样品在实际运行中的稳定性有所提高.造成这种变化的主要原因是CaO通过固溶反应后产生的氧空位和深层缺陷促进了势垒的形成.