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改进的大规模集成电路测试方法
可测性设计
内建自测试
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测试向量压缩
超大规模集成电路的板级测试研究
超大规模集成电路
板级测试
互连测试
簇测试
硅超大规模集成电路技术和发展
硅集成电路
技术
产品
发展
基于神经网络和广义互测试的大规模电路故障诊断
神经网络
广义互测试
模拟电路
故障定位
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 大规模集成电路中短路故障和固定故障的诊断新方法
来源期刊 上海科技大学学报 学科 工学
关键词 集成电路 短路 故障 诊断法
年,卷(期) 1989,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-11
页数 11页 分类号 TN47
字数 语种
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
短路
故障
诊断法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海科技大学学报
季刊
0258-7041
31-1435/N
上海市嘉定城中路20号
出版文献量(篇)
370
总下载数(次)
2
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