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大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
大规模集成电路的高低温测试技术
高低温测试
热流系统
温度建立时间
国外超大规模集成电路的生产状况
超大规模集成电路
武器装备
发展对策
主流产品
超大规模集成电路中的可靠性技术应用与发展
超大规模集成电路
系统芯片
可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 大规模集成电路中短路故障和固定故障的诊断新方法
来源期刊 上海科技大学学报 学科 工学
关键词 集成电路 短路 故障 诊断法
年,卷(期) 1989,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-11
页数 11页 分类号 TN47
字数 语种
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
短路
故障
诊断法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海科技大学学报
季刊
0258-7041
31-1435/N
上海市嘉定城中路20号
出版文献量(篇)
370
总下载数(次)
2
总被引数(次)
0
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