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半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
塑封半导体器件的可靠性保证措施
塑封半导体器件
可靠性
温度适应性评估
二次筛选
破坏性物理分析
半导体器件寿命影响因素分析及处理方法
半导体器件
寿命
浪涌
静电
软启动
消浪涌电路
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 半导体器件的质量控制
来源期刊 宝成技术 学科 工学
关键词 半导体器件 质量 控制 可靠性
年,卷(期) 1990,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 37-40
页数 4页 分类号 TN306
字数 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
节点文献
半导体器件
质量
控制
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
宝成技术
半年刊
陕西省宝鸡市清姜路70号
出版文献量(篇)
146
总下载数(次)
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