PLD测试向量应用于IC测试

• 作者: 余圣发 董兆鑫
• 来源期刊: 湖南通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 测试 可编程逻辑器件
• 年，卷（期）: hntxjs_1995,（2）
• 页码范围: 76-78
• 页数: 3页
• 分类号: TN407

摘要

专用芯片的测试通常对于一般用户是不可能的，但又是非常必要的，本文讲述了以ＡＬＬ－０３通用编程器为基础对某些专用芯片进行测试的原理和方法。