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摘要:
利用ArF准分子脉冲激光沉积工艺在Pt/SiO2/Si衬底上制行了Pb(Zr52Ti48)O3(PZT)薄膜。并用X射线衍射分析方法研究了不同后续热处理对薄膜相组成和相结构转变的影响。
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择优取向
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 后续热处理配合PLD制备铁电PZT薄膜及其工艺优化研究
来源期刊 上海微电子技术和应用 学科 工学
关键词 PLD 半导体集成电路 快速热退火 铁电PZT薄膜
年,卷(期) 1996,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 9-13
页数 5页 分类号 TN384
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1996(0)
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研究主题发展历程
节点文献
PLD
半导体集成电路
快速热退火
铁电PZT薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
总下载数(次)
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