电子设备可靠性的Bayes评估及检验

• 作者: 岳琳 徐学标
• 来源期刊: 上海微电子技术和应用
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 Bayes分布 假设检验 电子设备
• 年，卷（期）: 1997,（2）
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN606

摘要

本文介绍了小子样电子设备的Ｂａｙｅｓ可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础，结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐学标		1	0	0.0	0.0
2	岳琳		1	0	0.0	0.0