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摘要:
用低能离子束轰击工艺制备了3~5μm及8~10μm碲镉汞pn结,研究了它们的电流-电压及电容-电压特性,发现该pn结为缓变结,与通常认为的关于低能离子束轰击p型碲镉汞造成表面转型的机制主要是汞扩散的假说相符合.
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文献信息
篇名 低能离子束轰击碲镉汞制备pn结电学特性的研究
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 离子束 碲镉汞 pn结
年,卷(期) 1998,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 21-24
页数 4页 分类号 O4
字数 1597字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.1998.01.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 方家熊 中国科学院上海技术物理研究所 39 184 7.0 11.0
5 李向阳 山东大学光学系 7 19 3.0 4.0
6 赵军 中国科学院上海技术物理研究所 100 1883 24.0 40.0
10 陆慧庆 中国科学院上海技术物理研究所 3 6 2.0 2.0
14 周咏东 中国科学院上海技术物理研究所 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
离子束
碲镉汞
pn结
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
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3
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28003
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