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真空电子显示器件(CRT)可靠性评价方法的应用研究
真空电子显示器件(CRT)可靠性评价方法的应用研究
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摘要：
推荐文章
可靠性强化试验在显示器上的应用
可靠性强化试验
故障模式
薄弱环节
显示器
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
贮存可靠性
长期自然贮存
极限应力试验
加速贮存寿命试验
电子设备可靠性评估方法应用研究
电子设备
可靠性评估
经典法
贝叶斯法
电子设备可靠性增长试验方法及应用研究
电子设备
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期刊影响力
真空电子技术
主办单位：
北京真空电子技术研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1002-8935
CN：
11-2485/TN
开本：
大16开
出版地：
北京749信箱7分箱
邮发代号：
创刊时间：
1959
语种：
chi
出版文献量（篇）
2372
总下载数（次）
7
总被引数（次）
8712
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