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摘要:
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电子元器件的贮存可靠性及评价技术
电子技术
贮存可靠性
综述
长期贮存试验
极限应力试验
加速贮存寿命试验
真空显示器件的现况与展望
真空显示器件
阴极射线管
真空荧光显示管
场致发射显示板
液晶显示器
等离子体显示板
电致发光显示板
电子元器件的可靠性选择与应用控制
电子元器件
可靠性
选择与应用
基于网络的电子元器件可靠性信息分析系统研究
电子元器件
可靠性信息
大数据分析
失效分析知识辅助
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 真空电子显示器件(CRT)可靠性评价方法的应用研究
来源期刊 真空电子技术 学科
关键词
年,卷(期) 1999,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 53
页数 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.1999.06.011
五维指标
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1999(0)
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2011(1)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
出版文献量(篇)
2372
总下载数(次)
7
总被引数(次)
8712
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