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摘要:
研究了较低掺杂浓度时InAs量子点中直接掺杂Si对其发光特性的影响.光致发光谱(PL)的测量表明,与未掺杂样品相比,掺杂样品发光峰稍微蓝移,同时伴随着发光峰谱线明显变窄.该结果表明,在生长InAs层时直接掺杂,有利于形成大小分布更均匀的小量子点.该研究对InAs自组织量子点在器件应用方面有一定的意义.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 杂质SI对INAS自组织量子点均匀性的影响
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 自组织量子点 PL 硅掺杂 INAS/GAAS
年,卷(期) 1999,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 423-426
页数 4页 分类号 O472
字数 语种 中文
DOI
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1999(0)
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研究主题发展历程
节点文献
自组织量子点
PL
硅掺杂
INAS/GAAS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
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