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电路测试的可区分故障算法研究
电路测试的可区分故障算法研究
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摘要：
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基于故障可诊性与遗传算法的模拟电路测试激励优化方法
模拟电路
测试激励
优化设计
故障可诊性
遗传算法
模拟电路故障诊断测试节点优选新算法
故障诊断
粗糙集
二进制可辨矩阵
核
约简
测试节点
电路故障诊断中探针测试点的筛选算法研究
探针测试点
筛选算法
单固定型故障
多固定型故障
非线性模拟电路可测试性度量研究
可测性度量
非线性模拟电路
分段线性化方法
内容分析
关键词云
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文献信息
| 篇名 | 电路测试的可区分故障算法研究 | ||
| 来源期刊 | 中山大学学报（自然科学版） | 学科 | |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 1999,（3） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 21 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | |
| 字数 | 2968字 | 语种 | 中文 |
| DOI | 10.3321/j.issn:0529-6579.1999.03.005 | ||
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期刊影响力
中山大学学报(自然科学版)
主办单位：
中山大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
0529-6579
CN：
44-1241/N
开本：
大16开
出版地：
广东省广州市新港西路135号
邮发代号：
46-15
创刊时间：
1955
语种：
chi
出版文献量（篇）
5017
总下载数（次）
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中山大学学报(自然科学版)1999年第5期
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