CMOS电路电流测试综述

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CMOS电路

电流测试

静态电流(I_(DDQ))

动态电流(I_(DDT))

摘要：

集成电路设计与测试是当今计算机技术研究的主要问题之一.CMOS电路的静态电流(IDDQ)测试方法自80年代提出以来,已被工业界采用,作为高可靠芯片的测试手段.近年来,动态电流(IDDT)测试方法正在研究中.现在正面临一些亟待解决的问题,希望大家的参与.文中对CMOS电路电流测试方法作一综述

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篇名	CMOS电路电流测试综述
来源期刊	计算机研究与发展	学科
关键词	CMOS电路电流测试静态电流(I_(DDQ)) 动态电流(I_(DDT))
年，卷（期）	1999,（2）	所属期刊栏目
研究方向		页码范围	2-6
页数	5页	分类号
字数		语种	中文
DOI