从1类瓷介电容器美国军用标准看有无可靠性指标要求的两种标准的区别

• 作者: 张昌仁 王勇
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 1类瓷介电容器 美国军用标准 可靠性指标
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 标准
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TM534+.1
• 字数: 3752字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2000.02.020

摘要

通过整理和分析MIL-C-20H标准,不难看出美国军用有可靠性指标要求的电子元器件标准水平是高于无可靠性指标要求的标准的.它有一套可靠性认定和维持的方法及程序.了解美国军用标准中有、无可靠性指标要求两种标准的异同.为掌握和使用提供有益的帮助.