能隙阶梯缓变结构Si1-xGex/Si光电探测器

• 作者: 刘夏冰 朱顺明 江若琏 程雪梅 罗志云 臧岚 郑有炓
• 来源期刊: 高技术通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 能隙梯度 光电响应度 离化 耗尽层
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 研究通讯
• 页码范围: 10-12
• 页数: 3页
• 分类号: TN3
• 字数: 1234字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-0470.2000.06.003

摘要

提出了一种新结构Si1-xGex/Si光电探测器--能隙阶梯缓变结构的Si1-xGex/Si PIN型近红外光电探测器.理论分析表明,能隙缓变增大了载流子的离化率,价带的不连续则有利于空穴离化,从而对载流子的收集有利,可获得高的光电响应.实验结果表明,该探测器具有良好的I-V特性,反向漏电低达0.1μA/mm2(-2V).该探测器主峰值波长在0.96μm.其光电流响应随着反向偏压的增加有明显的增大,在同等条件下其光电流响应约为商用Si-PIN探测器的15倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑有炓	南京大学物理系	78	353	11.0	15.0
2	朱顺明	南京大学物理系	20	72	5.0	7.0
3	刘夏冰	南京大学物理系	5	10	2.0	3.0
4	江若琏	南京大学物理系	11	57	5.0	7.0
5	臧岚	南京大学物理系	5	9	2.0	3.0
6	罗志云	南京大学物理系	4	7	2.0	2.0
7	程雪梅	南京大学物理系	4	9	2.0	3.0