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摘要:
利用Ar+束溅射沉积技术实现了CdTe薄膜的低温生长,利用电化学方法进行了HgCdTe表面自身阳极氧化膜的生长,利用生长的CdTe介质膜和HgCdTe表面自身阳极氧化膜对n-HgCdTe光导器件进行了表面钝化.对两种器件的电阻、各项性能指标进行了测量分析,实验表明得到的CdTe/HgCdTe界面质量已达到器件实用化水平.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 n-HgCdTe 光导器件的两种表面钝化研究
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 工学
关键词 器件表面钝化 CdTe HgCdTe Ar+束溅射沉积
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 233-236
页数 4页 分类号 TN2
字数 3081字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.2000.03.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 汤定元 中国科学院上海技术物理研究所 16 70 4.0 7.0
2 方家熊 中国科学院上海技术物理研究所 39 184 7.0 11.0
3 周咏东 苏州大学物理系 8 40 3.0 6.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
器件表面钝化
CdTe
HgCdTe
Ar+束溅射沉积
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
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