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摘要:
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CMP参考面的物理研究
CMP参考面
地表高程圆滑面
贡献
定义
时深转换
蓝宝石衬底铜抛-CMP加工技术
蓝宝石衬底
化学机械抛光
表面质量
工艺优化
硅抛光片(CMP)市场和技术现状
硅抛光片
CMP技术
清洗
CMP属性空间连续性问题分析
多参数处理
CMP属性
叠加剖面
空间连续性
抽道顺序
面元尺寸
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 CMP技术与市场
来源期刊 电子工业专用设备 学科
关键词
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 4
页数 4页 分类号
字数 3555字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2000.01.002
五维指标
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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31
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10002
论文1v1指导