基于遗传算法的PCB互连测试矢量集优化初探

• 作者: 卢静 周娅 郭学仁
• 来源期刊: 桂林电子工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 遗传算法 伪随机数发生
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 41-44
• 页数: 4页
• 分类号: TP806.1
• 字数: 2705字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2000.03.010

摘要

测试矢量生成是PCB互连测试的关键环节,它对整个PCB测试过程有着重要意义.本文就基于遗传算法的PCB互连测试矢量集优化讨论了编码策略、目标函数等问题,提出了几种遗传算子的改进方案,得出一种高效的遗传算法.实验数据证明该方法是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周娅	桂林电子工业学院计算机系	90	540	11.0	19.0
2	卢静	桂林电子工业学院计算机系	2	8	1.0	2.0
3	郭学仁	桂林电子工业学院计算机系	4	26	2.0	4.0