一种多层薄膜电路故障检测的算法

• 作者: 吴国威 张利 苏光大 邵亚非
• 来源期刊: 模式识别与人工智能
• 学科: 工学
• 关键词: 多层薄膜电路 故障检测 直接比较 故障描述
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 327-331
• 页数: 5页
• 分类号: TP391|TN45
• 字数: 3446字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6059.2000.03.017

摘要

通常的电路故障检测方法有直接比较和非直接比较两类.本文结合了它们的优点,对多层薄膜电路故障检测的方法进行了研究,提出了一种基于直接比较和缺陷描述的检测算法,在速度和正确率上达到了满意的结果,可在实际的工业检测中应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张利	清华大学电子工程系	166	1426	18.0	35.0
2	苏光大	清华大学电子工程系	65	1203	17.0	33.0
3	邵亚非	清华大学电子工程系	6	90	4.0	6.0
4	吴国威	清华大学电子工程系	18	424	9.0	18.0