GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析

• 作者: 孙伟 张大明 田小建 衣茂斌
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 电光采样 集成电路芯片 故障检测
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 激光器件与元件
• 页码范围: 23-24
• 页数: 2页
• 分类号: TN2
• 字数: 918字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2000.02.012

摘要

介绍了一种实用的电光采样测试系统,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变,单位带宽电压灵敏度为2.52mV/Hz.改进了电子移相扫描法,利用倍频移相扫描法对GaAs动态分频器芯片故障进行了在片检测分析.