镀膜玻璃层结构及成分的俄歇电子能谱分析

• 作者: 尹诗衡 曹珍年 谭春华
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 化学
• 关键词: 俄歇电子能谱仪 镀膜玻璃 深度剖析 膜厚
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 仪器技术应用
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: O657.62|O655.9
• 字数: 1692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2001.06.017

摘要

利用俄歇电子能谱仪测试了一种镀膜玻璃的表面层成分,并利用深度剖析的方法测试分析了其镀膜层的结构,估算了镀膜层的厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尹诗衡	华南理工大学测试中心	36	250	10.0	14.0
2	曹珍年	华南理工大学测试中心	19	101	6.0	9.0
3	谭春华	华南理工大学测试中心	2	6	1.0	2.0