混合集成电路应用中的失效分析

• 作者: 何振山 樊晓团
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 混合集成电路 应用 失效分析
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: TN45

摘要

通过对两种混合集成电路即温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析，表明以下观点：（1）对混合集成电路的分析，应通过电路内部测试，测量电路工作状态下各个关键部位的参数乃至动态波形；（2）深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度，有利于使分析结论更趋准确。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊晓团		4	0	0.0	0.0
2	何振山		2	0	0.0	0.0