原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
文章对贮能焊封装过程中管壳的受力状态进行了分析,给出了各结合层残余应力的计算结果,结果表明:管壳的翘曲度对电路内部各结合层受力装态的影响很大.
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文献信息
篇名 功率混合集成电路的封装应力分析
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 混合IC 封装 应力
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目 微电子技术
研究方向 页码范围 29-31,35
页数 4页 分类号 TN4
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7180.2000.06.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李自学 1 0 0.0 0.0
2 王凤生 1 0 0.0 0.0
3 宋长江 1 0 0.0 0.0
4 田东方 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
混合IC
封装
应力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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