CdZnTe晶片显微光致发光谱中的等效温度分布研究

• 作者: 何力 方维政 李志锋 杨建荣 沈学础 蔡炜颖 陆卫
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: CdZnTe晶体 显微光致发光 平面扫描 等效温度
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 233-237
• 页数: 5页
• 分类号: TN21
• 字数: 3419字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2001.03.017

摘要

提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究.在含缺陷区域进行微米尺度和在大面积范围内进行毫米尺度的逐点PL测量.对测得每一点的PL谱进行了拟合.拟合参数中等效温度Tc的统计分布给出两个分布中心,表明存在有两种机制的发光过程.同时统计结果给出发光各点的不均匀性.等效温度的平面分布图直观地给出了各温度的平面位置，样品经溴抛光后重复类似的测量,结果表明等效温度的统计均匀性大为改善.抛光后的不同的缺陷点表现出不同的发光特性,意味着各自起源的不同.大面积PL扫描的统计结果和平面分布给出样品特性的整体评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆卫	中国科学院上海技术物理研究所	95	442	12.0	16.0
2	李志锋	中国科学院上海技术物理研究所	37	186	8.0	12.0
3	蔡炜颖	中国科学院上海技术物理研究所	9	17	2.0	3.0
4	沈学础	中国科学院上海技术物理研究所	17	41	3.0	6.0