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摘要:
铁电PZT薄膜的极化印刻(imprinting)是PZT不挥发存储器失效的重要原因之一.本文研究了不同钇量改性的PZT(40/60)铁电薄膜在高温(120℃)和偏置电压下的极化印刻特性,发现适量的钇掺杂,改善了PZT薄膜电容器单元的极化印刻.
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关键词云
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文献信息
篇名 钇改性PZT薄膜的极化印刻研究
来源期刊 无机材料学报 学科 工学
关键词 铁电薄膜 Y-PZT薄膜 印刻(imprinting)
年,卷(期) 2001,(5) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 928-932
页数 5页 分类号 TB43
字数 1993字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-324X.2001.05.024
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 丁爱丽 中国科学院上海硅酸盐研究所 16 136 6.0 11.0
2 仇萍荪 中国科学院上海硅酸盐研究所 7 42 4.0 6.0
3 罗维根 中国科学院上海硅酸盐研究所 8 81 4.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
铁电薄膜
Y-PZT薄膜
印刻(imprinting)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无机材料学报
月刊
1000-324X
31-1363/TQ
16开
上海市定西路1295号
4-504
1986
chi
出版文献量(篇)
4760
总下载数(次)
8
总被引数(次)
61689
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