膜混合集成电路、MOS集成电路

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 混合集成电路 片上系统 必然趋势 设计方法学 电流传感器 微电子技术 测试集成 设计技术 技术发展 协调设计
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 页码范围: 25-26
• 页数: 2页
• 分类号: TN

摘要

【正】 0102051片上系统集成(SoC)时代的到来[刊]/张宝元//微电子技术.—2000.28(5).—13～17(E)本文从信息市场需求和技术发展的角度分析了片上系统集成(SOC)是集成电路发展的必然趋势,它是设计技术的一场革命.将成为信息领域 IC 的主流。本文还简要地叙述了 SOC 所涉及到的如 IP、设计方法学、软、硬件协调设计、验证等主要技术。参2Y2000-62185-147 01020520.8μm CMOS 工艺的器件设计,制造及特性=Devicedesign.fabrication and characterization of 0.8gm CMOStechnology[会,英]//1998 IEEE International Confer-ence on Semiconductor Electronics.—147～151(E)Y2000-62185-162 0102053用于 CMOS 集成电路逻辑和 IDDQ 测试集成化的电流传感器及测试处理器设计=Current sensor and testprocessor design for integration of logic and IDDQ testingof CMOS ICs[会,英]/Ahaf-U1-Amin.M.＆ Darus,Z.M.//1998 IEEE International Conference on Semicon-