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摘要:
分析了一种以Bi-CMOS工艺实现的高精度单向隔离模拟开关,这种开关用在高速A/D转换器中使电路结构大为简化.通过对开关特性的理论分析、电路模拟及工艺验证,证明了这种模拟开关所具有的高速可控性和传输信号的精度均优于双极工艺所实现的单向隔离模拟开关.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Bi-CMOS工艺的高精度单向模拟开关研究
来源期刊 微处理机 学科 工学
关键词 高精度 模拟开关 Bi-CMOS
年,卷(期) 2002,(3) 所属期刊栏目 大规模集成电路设计、制造与应用
研究方向 页码范围 17-19,22
页数 4页 分类号 TN4
字数 3210字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2279.2002.03.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 高松 2 3 1.0 1.0
2 袁凯 11 8 1.0 2.0
3 李志辉 1 0 0.0 0.0
4 陈东石 2 3 1.0 1.0
5 王东梅 1 0 0.0 0.0
6 田松 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (1)
节点文献
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同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1978(1)
  • 参考文献(1)
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2002(0)
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  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
高精度
模拟开关
Bi-CMOS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微处理机
双月刊
1002-2279
21-1216/TP
大16开
沈阳市皇姑区陵园街20号
1979
chi
出版文献量(篇)
3415
总下载数(次)
7
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