IEEE1149.1产生新标准

• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE149.1 新标准 边界扫描
• 年，卷（期）: 2002,（8）
• 所属期刊栏目: 测试技术与应用
• 页码范围: 22-27
• 页数: 6页
• 分类号: TP3
• 字数: 5883字
• 语种: 中文

摘要

研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务.