作者:
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
CMOS模拟集成电路匹配技术及其应用
模拟集成电路
版图
匹配
运放
基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究
模拟集成电路
可测性设计
功能测试
IEEE1149.4
模拟集成电路多目标遗传算法优化设计
模拟集成电路
设计自动化
电路多目标优化
多目标遗传算法
模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 模拟集成电路新技术
来源期刊 世界电子元器件 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2002,(7) 所属期刊栏目 模拟器件
研究方向 页码范围 20-21
页数 2页 分类号 TN4
字数 2270字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-7604.2002.07.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 董在望 清华大学电子工程系 45 288 10.0 14.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2002(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2008(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2009(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
世界电子元器件
月刊
1006-7604
11-3540/TN
16开
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
82-796
1995
chi
出版文献量(篇)
5855
总下载数(次)
6
总被引数(次)
6108
论文1v1指导