二次包封CMOS器件电子辐照实验研究

• 作者: 于伦正 何宝平 党军 卫宁 周辉 郭红霞 陈雨生
• 来源期刊: 空间科学学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 二次封装 电离辐射 电子辐照 屏蔽
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 页码范围: 396-400
• 页数: 5页
• 分类号: P35
• 字数: 2050字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-6124.2003.05.010

摘要

对CMOS器件54HCT00进行了复合材料的二次包封,研制了试验电路板,在器件加电工作下进行电子辐照试验的动态测试.结果表明,二次封装的器件抗总剂量的能力提高了1-2个数量级,得到了预期的数据和结果.这些工作为商用器件的空间开拓使用提供了很好的途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周辉		84	938	16.0	26.0
2	何宝平		46	291	9.0	13.0
3	郭红霞		81	385	10.0	13.0
4	陈雨生		36	433	11.0	19.0
5	卫宁		3	18	2.0	3.0
6	于伦正		4	18	2.0	4.0
7	党军		1	6	1.0	1.0