电子轰击型电荷耦合器件成像过程中的混频现象

• 作者: 刘明奇 周立伟 左昉 苏美开 高稚允
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 信息处理技术 电子轰击 电荷耦合器件 分辨力 调制传递函数
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 351-353
• 页数: 3页
• 分类号: TN223|TN15
• 字数: 2198字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2003.03.015

摘要

本文研究和测量了电子轰击型电荷耦合器件(EBCCD)的极限分辨力,得到了对不同频率条纹的成像规律.当采样频率大于Nyquist极限频率时发生混频现象,但仍可能有条纹出现,并由频谱分析进行了说明.通过对调制传递函数测量可以看到,EBCCD图像传感器对高于Nyquist频率的图案具有一定的传递特性,进一步说明了对高频分辨力图案成像时出现条纹的可能性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高稚允	北京理工大学光电工程系	57	922	17.0	28.0
2	周立伟	北京理工大学光电工程系	48	311	8.0	16.0
3	苏美开	北京理工大学光电工程系	17	133	6.0	11.0
4	左昉	北京理工大学光电工程系	7	95	5.0	7.0
5	刘明奇	北京理工大学光电工程系	22	384	8.0	19.0