磁悬浮硬盘转子控制系统中时序电路测试技术

• 作者: 刘泉 周祖德 库少平 胡业发
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁悬浮 硬盘 时序电路 测试
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 电路测试及应用
• 页码范围: 83-86
• 页数: 4页
• 分类号: TN79
• 字数: 2718字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2003.01.021

摘要

为提高磁悬浮硬盘转子控制系统的可靠性, 提出了对时序芯片的测试方法: 手工测试和计算机辅助测试; 及对时序电路逻辑功能的两种检测技术:基于状态表的测试技术和自动检测技术. 对于时序芯片, 手工测试方法效率较低, 计算机辅助测试方法适用范围更广; 对于电路逻辑功能, 基于状态表的测试技术操作相对困难, 但无须增加额外测试电路; 自动检测技术操作简单, 且测试速度快, 但需要增加辅助检测电路. 时序电路测试技术对保证悬浮硬盘转子各组成部分协同工作十分重要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡业发	武汉理工大学机电工程学院	177	1769	21.0	31.0
2	刘泉	武汉理工大学机电工程学院	123	1139	18.0	28.0
3	周祖德	武汉理工大学机电工程学院	215	2565	25.0	40.0
4	库少平	武汉理工大学机电工程学院	27	181	7.0	13.0