模拟及混合信号芯片的可测性设计

• 作者: 钟锐 魏同立
• 来源期刊: 东南大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟及混合信号 可测性设计 基于结构 基于性能 重构 内建自测试
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 261-265
• 页数: 5页
• 分类号: TN407|TN453
• 字数: 5043字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-0505.2003.03.004

摘要

对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较.研究指出,在测试内容方面,基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算,因此被认为是今后发展的主要方向;在测试信号传输路径方面,基于总线的方法具有较易实现标准化的优点;而在测试信号产生及检测方面,内建自测试可大大降低测试所需代价,因此有较大的研究应用前景.统一的低测试代价和高故障覆盖率的模拟及混合信号芯片可测性设计方法的产生对于芯片设计来说将是进一步发展的要求和保障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏同立	东南大学微电子中心	87	942	17.0	26.0
2	钟锐	东南大学微电子中心	54	211	8.0	12.0