薄金属膜光学常数的椭偏法测定

• 作者: 杨秀文 薛建华 韩丹 魏江南
• 来源期刊: 河北科技大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄金属膜 光学常数 椭偏测光法 单纯形法
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 77-80
• 页数: 4页
• 分类号: O439
• 字数: 2004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1542.2003.02.019

摘要

依据椭偏测光法的原理,采用内外反射法测量透明基底上薄金属膜的光学常数的厚度,并在计算机上利用单纯形法计算得到薄金属膜的折射率、消光系数和几何厚度,并对数据进行了系统误差的修正.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏江南	河北科技大学理学院	11	26	3.0	4.0
2	薛建华	河北科技大学理学院	9	29	4.0	5.0
3	杨秀文	河北大学物理系	1	11	1.0	1.0