用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试

• 作者: 吉时利公司
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 低噪声 半导体特性分析系统 超低电流测试
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术与应用
• 页码范围: 7-9
• 页数: 3页
• 分类号: TM152
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.02.001

摘要

文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间.