基于蚁群算法的测试集优化

• 作者: 俞龙江 彭喜源 彭宇
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 蚁群算法 测试集优化 故障诊断
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1178-1181
• 页数: 4页
• 分类号: TN919
• 字数: 5130字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2003.08.014

摘要

电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难.其中,测试集优化问题是电路故障诊断的关键问题之一.本文以新颖的蚁群算法为基础,较好地解决了测试集的优化问题,并通过实验证明了该算法的良好性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭宇	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	80	2316	24.0	47.0
2	俞龙江	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	7	135	5.0	7.0
3	彭喜源	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	3	44	3.0	3.0