微电子器件方波EMP注入敏感端对的实验研究

• 作者: 刘尚合 原青云 杨洁 武占成
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微电子器件 方波注入 敏感端对
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: O472.7|TN323.2
• 字数: 2549字
• 语种: 中文

摘要

采用方波注入法,对国外某知名公司生产的两个批次的晶体管进行了实验,比较了从CB结反向注入与从EB结反向注入的损伤电压值,发现该类器件的EMP敏感端对与人们一般研究的结论有所不同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武占成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	87	567	12.0	18.0
2	刘尚合	军械工程学院静电与电磁防护研究所	203	2590	23.0	39.0
3	原青云	军械工程学院静电与电磁防护研究所	50	325	12.0	15.0
4	杨洁	军械工程学院静电与电磁防护研究所	29	181	9.0	12.0