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封装测试企业快捷半导体(苏州)公司
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摘要：
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体激光器老化测试智能控制系统
半导体激光器
老化
筛选
驱动电路
智能化测试系统
MATLAB
优化设计
半导体集成电路电源拉偏测试研究
集成电路
电源拉偏测试
参数
基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台设计
嵌入式结构
半导体芯片
信息测试
工具集模块
内容分析
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期刊影响力
半导体行业
主办单位：
江苏省半导体行业协会
中国半导体行业协会集成电路分会
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
无锡市梁溪路14号
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
1222
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