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摘要:
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半导体桥芯片性能影响因素的研究
半导体桥
瞎火
性能
影响因素
RFIC芯片的测试与设计验证
芯片测试
键合
RFIC
设计验证
半导体芯片PCM测试技术的应用研究
半导体制造
PCM测试机
测试精度
测试效率
意法半导体(ST)发布业界首款通过Irdeto认证的电视系统级芯片
系统级芯片
Irdeto
意法半导体
电视
认证
半导体供应商
电子应用
安全应用
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 鼎芯半导体RFIC芯片量产在即
来源期刊 中国集成电路 学科 经济
关键词 鼎芯半导体公司 RFIC芯片 量产 射频集成电路
年,卷(期) 2004,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 15
页数 1页 分类号 F407.63
字数 语种 中文
DOI
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2004(0)
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研究主题发展历程
节点文献
鼎芯半导体公司
RFIC芯片
量产
射频集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国集成电路
月刊
1681-5289
11-5209/TN
大16开
北京朝阳区将台西路18号5号楼816室
1994
chi
出版文献量(篇)
4772
总下载数(次)
6
总被引数(次)
7210
论文1v1指导