FPGA器件在高速测试系统上的测试方法

• 作者: 冯建科 房征 郭士瑞
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 关键词: 可配置逻辑 FPGA 测试 RAM型 FPGA
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 第一部分测量、测试、检测理论、方法与分析
• 页码范围: 88-92
• 页数: 5页
• 字数: 4430字
• 语种: 中文

摘要

FPGA是可由用户配置的高密度ASIC芯片,本文以Xilinx公司的RAM型FPFA为例,介绍了一种用高速测试系统实现GPGA器件测试的方法.阐述了如何用测试仪对FPGA进行在线配置、功能测试和参数测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯建科		9	78	4.0	8.0
2	郭士瑞		8	39	3.0	6.0
3	房征		1	1	1.0	1.0