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摘要:
采用脉冲激光双光束沉积系统在Si(111)衬底上生长了掺Mg的GaN薄膜和未掺杂GaN薄膜.利用X射线衍射(XRD)、原子力显微镜(AFM)、室温范德堡霍尔测量及光致发光(PL)光谱对两类薄膜进行对比分析,结果显示,所生长的GaN薄膜均为六方纤锌矿晶体结构,掺Mg可细化所生长的GaN薄膜晶粒.随着掺Mg量的增加,GaN薄膜无需后处理即可由n型导电转化为p型导电,GaN薄膜的光学性能随p型载流子浓度增大而提高;然而掺Mg却导致GaN薄膜结晶质量下降,掺镁量过大的GaN薄膜中p型载流子浓度反而减少,光致发光中黄发射峰增强较大.研究表明通过优化脉冲激光双光束沉积参数无需任何后处理可直接获得高空穴载流子浓度的p型GaN薄膜.
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文献信息
篇名 脉冲激光双光束沉积掺Mg的GaN薄膜的研究
来源期刊 中国激光 学科 物理学
关键词 薄膜物理学 GaN薄膜 双光束 脉冲激光沉积 Mg掺杂
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 薄膜
研究方向 页码范围 332-336
页数 5页 分类号 O484.1
字数 4231字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0258-7025.2004.03.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑启光 华中科技大学激光技术国家重点实验室 32 305 10.0 15.0
2 童杏林 华中科技大学激光技术国家重点实验室 11 93 8.0 9.0
3 秦应雄 华中科技大学激光技术国家重点实验室 44 299 10.0 14.0
4 胡少六 华中科技大学激光技术国家重点实验室 21 359 10.0 18.0
5 于本海 华中科技大学激光技术国家重点实验室 9 96 7.0 9.0
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节点文献
薄膜物理学
GaN薄膜
双光束
脉冲激光沉积
Mg掺杂
研究起点
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中国激光
月刊
0258-7025
31-1339/TN
大16开
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4-201
1974
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