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基于BiCMOS制作技术的探讨与研究
基于BiCMOS制作技术的探讨与研究
作者:
鄢云
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
CMOS
双极晶体管
BiCMOS
扩散
注入
外延层
n阱
p阱
摘要:
此文从最简单最基本的三重扩散3DBiCMOS制作工艺技术入手,分析了BiCMOS制作工艺的特征,重点探讨了双阱BiCMOS工艺处理方法,进行了CMOS,双极晶体管和BiCMOS工艺对比分析,对BiCMOS制作工艺及性能提高的前景进行探讨与研究.
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文献信息
篇名
基于BiCMOS制作技术的探讨与研究
来源期刊
测试技术学报
学科
工学
关键词
CMOS
双极晶体管
BiCMOS
扩散
注入
外延层
n阱
p阱
年,卷(期)
2004,(z1)
所属期刊栏目
测试理论及应用
研究方向
页码范围
69-73
页数
5页
分类号
TN3
字数
2131字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z1.019
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
鄢云
3
6
1.0
2.0
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参考文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
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双极晶体管
BiCMOS
扩散
注入
外延层
n阱
p阱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
主办单位:
中国兵工学会
出版周期:
双月刊
ISSN:
1671-7449
CN:
14-1301/TP
开本:
大16开
出版地:
太原13号信箱
邮发代号:
22-14
创刊时间:
1986
语种:
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
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