常用场扫描输出集成电路简介及参数--非在路实测数据表格

• 作者: 高荣武
• 来源期刊: 家电检修技术
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 元器件与代换
• 页码范围: 56
• 页数: 1页
• 语种: 中文

摘要

在购买元件时,一般要对新元件进行较为仔细地测试,以免因新元件不良装机之后使得故障复杂化,反而给检修工作增添不必要的麻烦或困惑.另外,对有疑问的元件和拆机元件,进行"非在路"测试更是一种重要的判断手段.本文介绍三块常用的场输出集成电路"非在路"实测数据表格,可供选购新元件、判定旧元件参考.文中所列实测数据"表格"与众有所不同,它是由两组数据组成的,除了通常的"各引脚对地脚"以外,又增加了"各引脚对输出脚",这样可使测试判断的依据更加充分,从而提高了检验结果的可信度.测试参数如表1～表3所示.外部实物图如图1～图3所示.