着眼未来的LCD驱动芯片测试技术

• 作者: 宗伟
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: RSDS Mini-LVDS MDGT TET Source Driver
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: IC芯片测试
• 页码范围: 48-51
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2973字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2005.08.012

摘要

近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产.从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宗伟		1	1	1.0	1.0